Investigadores del grupo GEAS han publicado el artículo titulado «Detection and Determination of Released Ions in the Presence of Nanoparticles: Selectivity or Strategy?», en la prestigiosa revista Electroanalysis (vol. 31, año 2019, pp. 409-410). En este trabajo se lleva a cabo la especiación de nanopartículas y de sus iones liberados en la misma muestra. La metodología que se ha desarrollado permite medir directamente plata iónica disuelta, en presencia de nanopartículas de plata, y calcular el contenido en plata total, mediante técnicas voltamétricas. Los procedimientos analíticos se han validado siguiendo las recomendaciones de Eurachem, y empleando espectroscopía de absorción atómica de llama.
Enlace al artículo:
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/elan.201800597?af=R&